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    Bruker microCT SkyScan 1275 microCT系统配备最新X光光源技术和高效平板检测器专为快速扫描而设计。光源和探测器之间距离的缩短和快速的相机读出输出，使得在不牺牲图片质量的前提下，实现了将扫描时间减少到几分钟。高度自动化程度的系统允许按钮式地执行包括扫描、重构和容积再现在内的一系列预选好的操作，高质量结果的快速扫描对于科学研究和工业应用来说都是至关重要的，比如质量控制或生产流程监控。仪器可容纳的扫描样品尺寸达到直径96mm，长度120mm，满足工业零部件扫描要求，而同时最短扫描时间只需80秒。

 

X射线源：        20-100kV，10W，<5μm微焦斑

X射线探测器：    300万像素平板CMOS（1944x1536）

最大样品尺寸：    直径96mm，高度120mm

空间分辨率：      <4μm

重构：            标准GPU加速FDK重构

可选配样品台：    微定位平台、冷却/加热平台、压力/张力平台

辐射安全：        仪器表面任一点<1μSv/h